18519585532
當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 應(yīng)力儀 > 光學(xué)材料測(cè)試
圓二色性測(cè)量系統(tǒng)使用垂直光路直接從標(biāo)準(zhǔn)孔板測(cè)量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到試管中進(jìn)行篩選,也不需要在分析過(guò)程中清洗試管
各向異性測(cè)量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計(jì)是一個(gè)重大的突破,光學(xué)各向異性測(cè)量技術(shù)更快、更準(zhǔn)確、收集更多的數(shù)據(jù)。
Strokes 偏振計(jì)在光學(xué)元件表征、光學(xué)系統(tǒng)光束輸出特性、天文學(xué)、光纖制造、光源和激光質(zhì)量控制等方面有著廣泛的應(yīng)用。
傳真:010-68214292
郵箱:gloria.yang@opcrown.com
地址:北京市門頭溝區(qū)蓮石湖西路98號(hào)院7號(hào)樓1006室