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美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量在與眾多的光學(xué)材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統(tǒng)，用于測量大面積光學(xué)材料，如用于LCD...

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QptLuxSD是一款創(chuàng)新性的光學(xué)表面瑕疵檢測，具備高重復(fù)性和準(zhǔn)確性，系統(tǒng)根據(jù)設(shè)定的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成詳細(xì)的通過/失敗報(bào)告，與光學(xué)行業(yè)現(xiàn)在很多的具有很強(qiáng)主觀性的人工檢驗(yàn)以及其他手動(dòng)檢驗(yàn)設(shè)備相比，提供光學(xué)...

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該系統(tǒng)利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進(jìn)探測和解調(diào)電子來測量光學(xué)如何改變偏振狀態(tài)。這就導(dǎo)致了一個(gè)偏振狀態(tài)相對于另一個(gè)偏振狀態(tài)的光延遲測量結(jié)果是90°。利用這些數(shù)據(jù)可以對雙折射、快速軸向和理論...

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150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品，用于殘余應(yīng)力檢測。該應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測量光學(xué)組件應(yīng)力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多...

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BEAMAGE系列光束質(zhì)量分析儀分析激光光束是對其功率或能量測量的一種方便補(bǔ)充，因?yàn)楣馐|(zhì)量分析儀提供了非常有用的附加信息，如空間能量或強(qiáng)度分布、光束寬度、質(zhì)心、橢圓度和方向，可以幫助您確定您的激光系...

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美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術(shù)于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術(shù)，具生產(chǎn)價(jià)值的測量雙折射的能力。Exicor系統(tǒng)的高靈敏度是Hinds...

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光學(xué)玻璃應(yīng)力測量占地小-大限度地減少設(shè)備所需的工廠空間；平臺(tái)設(shè)計(jì)-使可測量面積盡可能大；強(qiáng)大的自動(dòng)化-質(zhì)量階段和硬件正常運(yùn)行時(shí)間。

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UP19-W 系列功率測量,熱電堆只是一系列熱電偶串聯(lián)連接并相互靠近。常見的應(yīng)用是當(dāng)施加電壓以冷卻熱電堆的一側(cè)以及它所粘合的任何一側(cè)時(shí)。然而，激光功率測量熱電堆用途相反。即，使用溫度差制造電壓。一側(cè)的...

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Gentec-EO功率計(jì)和能量計(jì)在這個(gè)領(lǐng)域擁有超過45年的歷史。 Gentec-EO還為您提供UP12-H＆UP19-H系列通用寬帶譜平面功率探頭，UP19-VR系列特定UV和IR波段的高峰值功率脈...

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