熱門關(guān)鍵詞: 測角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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簡要描述:M6-UV-QED衰減片:用于M6超快熱電探測器專用衰減器。允許對紫外的測量。QED-12用于QE12系列寬帶衰減器。300-2100nm。
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激光測量
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