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Optikos OpTest®光學測量與測試系統(tǒng)

簡要描述:Optikos OpTest®光學測量與測試系統(tǒng)融合了光學和光機工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新結(jié)果,由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設計的定制光學元件、機械部件和電子元件組成,進而提供全面的鏡頭測試產(chǎn)品線,并提供升級方案和模塊,可擴展OpTest®計量功能,包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外先測試等測量項目。

  • 產(chǎn)品型號:
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2025-05-17
  • 訪  問  量:66

詳細介紹

OpTest®更專業(yè)的通用光學成像測量與評價系統(tǒng):Optikos OpTest®光學測量與測試系統(tǒng)

 

無論您設計什么,都可以使用 OPTEST®系統(tǒng)進行測量 

OpTest鏡頭測量系統(tǒng)集成了光學和光機工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新。市場上的其他產(chǎn)品通?;谕ㄓ玫默F(xiàn)成實驗室組件制造其系統(tǒng),而Optikos解決方案的每一步都是量身定制的。OpTest系統(tǒng)由Optikos工程師專門為鏡頭測試設計的定制光學、機械和電子組件組成。

Optikos提供全面的鏡頭測試產(chǎn)品線。通過升級路徑和模塊,可擴展OpTest的測試能力,包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外線測試等測量。

量身定制,滿足您的需求

Optikos不僅根據(jù)您的即時需求構(gòu)建光學測試系統(tǒng),還為您提供簡單的升級路徑,以適應需求的化。Optikos 的解決方案為您提供了技術(shù)和經(jīng)濟雙重優(yōu)勢:隨著您的應用或業(yè)務發(fā)展,系統(tǒng)不會過時;它足夠靈活,能夠滿足您現(xiàn)在和未來的需求。

在眾多產(chǎn)品中,選擇適合您需求的組件至關(guān)重要,這些組件將為您提供靈活性。在接下來的光學測試部分中,您將了解到一系列產(chǎn)品,它們可以協(xié)同工作,以滿足您的應用需求。通過描述和圖示,我們將解釋每款產(chǎn)品如何用于構(gòu)建完整的系統(tǒng)。量系統(tǒng)提供的解決方案,每一步都是定制化的。OpTest®融合了光學和光機工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新結(jié)果,由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設計的定制光學元件、機械部件和電子元件組成,進而提供全面的鏡頭測試產(chǎn)品線,并提供升級方案和模塊,可擴展OpTest®計量功能,包括透射率、雜散光、無焦、有限共軛和紫外先測試等測量項目。

 

 

 

Optikos OpTest®光學測量與測試系統(tǒng)可構(gòu)建的光學系統(tǒng)測量方案 

 

Optikos OpTest®光學測量與測試系統(tǒng)


OpTest® 系統(tǒng)的模塊化組件,通過適當?shù)呐渲每蛇m合測試大多數(shù)類型的鏡頭。 選擇和配置適合被測光學系統(tǒng)的模塊需要明確被測光學系統(tǒng)的使用方式,包括:

 

1.    物與像的共軛位置關(guān)系
2.    光譜范圍
3.    空間分辨率
4.    物與像的尺寸以及系統(tǒng)的視場大小
5.    瞳孔直徑、f/數(shù)(光圈值)、數(shù)值孔徑
6.    外觀尺寸和光學系統(tǒng)布局    

 

1) 物像共軛位置:大多數(shù)光學系統(tǒng)可分為三類:

Optikos OpTest®光學測量與測試系統(tǒng)

 

2)  光譜范圍:OpTest® 系統(tǒng)支持圖像分析儀,可以在從UV 到LWIR波長范圍內(nèi)工作。

 

Optikos OpTest®光學測量與測試系統(tǒng)

 

 

3)  空間分辨率:由所有光學系統(tǒng)在成像能力上都受到空間分辨率的限制。其中一個基本限制源于光的波動性。當光的波動性限制光學系統(tǒng)的性能時,系統(tǒng)具有“衍射極限"分辨率。光學系統(tǒng)的性能也可能受到系統(tǒng)設計或制造精度的限制。光學測試系統(tǒng)的分辨率必須遠小于被測系統(tǒng)的分辨率。測試系統(tǒng)中的圖像分析儀還必須具有足夠的分辨率,以分析被測光學系統(tǒng)形成的圖像。

對于無限和有限共軛系統(tǒng),空間分辨率以每毫米線對數(shù)(line-pairs per millimeter)表示。對于無焦系統(tǒng),空間分辨率以每毫弧度周期數(shù)(cycles per milliradian)表示。

 

4)圖像和物體物體的大小及系統(tǒng)視場:測試系統(tǒng)必須能夠覆蓋被測系統(tǒng)在物方空間和像方空間的視場(FOV)。對于無限共軛系統(tǒng),測試系統(tǒng)必須覆蓋物方空間的角視場以及全視場像高的線性尺寸。對于有限共軛測試,平移臺必須能夠覆蓋整個物高和像高,并設置所需的物距。對于測試無焦系統(tǒng),需要跨越物方空間和像方空間的角視場。


5)光學直徑、F/數(shù)和數(shù)值孔徑:測試系統(tǒng)必須能夠在被測系統(tǒng)在物方空間覆蓋的被測系統(tǒng)的入瞳,并收集來自整個出瞳的光。對于被測的無限共軛和無焦系統(tǒng),入瞳直徑設定了物方空間所需準直光束的下限。像方空間的要求由無焦系統(tǒng)的出瞳直徑?jīng)Q定,而在測試無限或有限共軛系統(tǒng)時,光圈值(F/number)或數(shù)值孔徑(NA)是相關(guān)的。


6)外觀尺寸和系統(tǒng)布局:一個OpTest® 系統(tǒng)需要一個光學臺來放置系統(tǒng)組件,并采用折疊光路。被測光學系統(tǒng)可能體積龐大,或包含折疊光路及其它特殊的物理特性。OpTest® 系統(tǒng)要求該平臺上有中心距為
1英寸中的 ?"-20 螺紋孔 或中心距為25mm的M6螺紋孔。  


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